GTL4060大面積探測平臺

                                                  領先於半導體業界信號完整性探針台設備供應商

GTL4060在設計上與GTL4040相似，但提供了一個更大的測試平臺，以容納中到大尺寸的測試板，

但仍提供在較小的板、插座、連接器和子元件上工作的能力，和器件封裝上的單面測量。

GTL4060可搭配兩種顯微鏡配置選項中的一種，分別為；【橋梁式顯微鏡架設】或【自由移動臂樣式】。

◢GTL4060 設備特徵：

■18英吋X24英寸吋平臺                                         ■整體平臺移動行徑：4英吋（X），3英吋（Y）、2英吋（Z）

■可容納多達8座GTL探針座                                   ■可調整鹵素環照明系統强弱度

■滑動壓板具有獨特的鎖定功能                              ■帶立體變焦光學和相機圖像埠的全三目顯微鏡

■真空校準基板支架                                                ■可選擇的多埠真空分配歧管

■校準基板                                                              ■可選高解析度彩色視頻系統，LCD顯示幕，帶多輸入視頻選擇器

■精密型低噪音真空泵                                            ■基礎真空的PCB夾具套件

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